Röntgenfotoelektron spektroskoopia (XPS)

Tallinna Tehnikaülikool

Tallinna Tehnikaülikool, Inseneriteaduskond, Materjali- ja keskkonnatehnoloogia instituut

  • Kellega saame edasi suhelda?

  • *

Teenuse kirjeldus

Axis Ultra DLD on firma Kratos Analytical Ltd elektronspektroskoopia süsteem, mis ühendab endas kaasaegse röntgen-fotoelektronspektroskoopia funktsionaalsuse koos parima energeetilise lahutuse ja kõrge tundlikkusega. Standard funktsioonideks on väikesest punktist ja paralleel-piltide röntgen-fotoelektronspektroskoopia materjalide pinna (2 – 8 nm) keemilise koostise analüüsiks. Lisavõimalusteks on objektide pinna Ar+-ioonidega pommitamine, puhastamise ja/või materjali keemilise koostise sügavusprofiili ülesvõtteks, ning ultraviolett-fotoelektronspektroskoopia  meetod, aine valentstsooni elektronstruktuuri uurimiseks.

Teenuse valdkond
Füüsika, keemia ja materjaliteadus • Vaata kõiki
Adapteril on peale selle teenuse veel 19 teenusepakkujat ja 983 teenust
Näita sarnased teenuseid

Seotud teenused

Toodete ja materjalide sobivuse määramine tootmiseks selektiivse lasersulatuse meetodil (metalli 3D printimine)
Tallinna Tehnikaülikool

Selektiivset lasersulatusmeetodit (SLM) kasutatakse keerulise kujuga detailide tootmisel metallidest ning metallisulamitest. Teostame SLM tehnoloogiale sobivate metallide...

Terakuju määramine plaatsusteguriga
Tallinna Tehnikaülikool

Terakuju määramine plaatsusteguriga.

Tekstiilikiudude joontiheduse määramine
Tallinna Tehnikaülikool

Tekstiilikiudude joontiheduse määramine. Standardi nimetus - Tekstiilkiud. Joontiheduse määramine. Gravimeetriline ja vibroskoopiline meetod.

Pole päris see mida otsid?

Kõiki teenuseid ei pruugi meie lehel välja olla toodud. Kui sa ei leidnud õiget teenust või ei tea täpselt, millist teenust vaja, siis saada meile päring.

Saada päring