Röntgenfotoelektron spektroskoopia (XPS)

Tallinna Tehnikaülikool, Inseneriteaduskond, Materjali- ja keskkonnatehnoloogia instituut
Teenuse kirjeldus
Axis Ultra DLD on firma Kratos Analytical Ltd elektronspektroskoopia süsteem, mis ühendab endas kaasaegse röntgen-fotoelektronspektroskoopia funktsionaalsuse koos parima energeetilise lahutuse ja kõrge tundlikkusega. Standard funktsioonideks on väikesest punktist ja paralleel-piltide röntgen-fotoelektronspektroskoopia materjalide pinna (2 – 8 nm) keemilise koostise analüüsiks. Lisavõimalusteks on objektide pinna Ar+-ioonidega pommitamine, puhastamise ja/või materjali keemilise koostise sügavusprofiili ülesvõtteks, ning ultraviolett-fotoelektronspektroskoopia meetod, aine valentstsooni elektronstruktuuri uurimiseks.
Seotud teenused
Pole päris see mida otsid?
Kõiki teenuseid ei pruugi meie lehel välja olla toodud. Kui sa ei leidnud õiget teenust või ei tea täpselt, millist teenust vaja, siis saada meile päring.
Saada päring