Keemilise koostise määramine röntgenfluoresents spektromeetriaga (XRF)

Tallinna Tehnikaülikool

Tallinna Tehnikaülikool, Inseneriteaduskond, Energiatehnoloogia instituut

  • Kellega saame edasi suhelda?

Teenuse kirjeldus

Keemilise koostise määramine WD-XRF (lainepikkusdispersiivne röntgenfluoresents) meetodiga. Sobib mistahes materjali keemilise koostise määramiseks, kuna antud meetodiga saab määrata kõiki elemente perioodilisuse süsteemis. Enamasti kasutatakse seda kivimite, setete, tuha, turba, pinnase jne analüüsimiseks. Keemilised põhikomponendid: SiO2, TiO2, Al2O3, Fe2O3, MnO, MgO, CaO, Na2O, K2O, P2O5.
Mikroelemendid pulberpreparaadist: Cl, F, As, Ba, Br, Ce, Cr, Cu, Ga, La, Mo, Nb, Nd, Ni, Pb, Rb, Sr, Th, U, V, Y, Zn, Zr
Võimalik ka ca 4 cm läbimõõduga proovi pindala kaardistamine 0,5 mm diameetriga röntgenkiiretäpiga, mis annab informatsiooni elementide pindalalisest jaotumisest proovides

Teenuse valdkond
Füüsika, keemia ja materjaliteadus Vaata kõiki
Keskkond ja selle kaitse Vaata kõiki
Adapteril on peale selle teenuse veel 18 teenusepakkujat ja 719 teenust
Näita sarnased teenuseid

Seotud teenused

Pole päris see mida otsid?

Kõiki teenuseid ei pruugi meie lehel välja olla toodud. Kui sa ei leidnud õiget teenust või ei tea täpselt, millist teenust vaja, siis saada meile päring.

Saada päring