Aatomjõu mikroskoopiline analüüs

Tallinna Tehnikaülikool

Tallinna Tehnikaülikool, Inseneriteaduskond, Materjali- ja keskkonnatehnoloogia instituut

  • Kellega saame edasi suhelda?

Teenuse kirjeldus

AFM võimaldab teha objekti pinnast kõrge resolutsiooniga topograafilisi pilte ning tuvastada electrilise potensiaaliga rikastatud juhtivaid piirkondi.

Teenuse valdkond
Füüsika, keemia ja materjaliteadus Vaata kõiki
Adapteril on peale selle teenuse veel 19 teenusepakkujat ja 1060 teenust
Näita sarnased teenuseid

Seotud teenused

Pole päris see mida otsid?

Kõiki teenuseid ei pruugi meie lehel välja olla toodud. Kui sa ei leidnud õiget teenust või ei tea täpselt, millist teenust vaja, siis saada meile päring.

Saada päring