Aatomjõu mikroskoopiline analüüs

Tallinna Tehnikaülikool, Inseneriteaduskond, Materjali- ja keskkonnatehnoloogia instituut
Teenuse kirjeldus
AFM võimaldab teha objekti pinnast kõrge resolutsiooniga topograafilisi pilte ning tuvastada electrilise potensiaaliga rikastatud juhtivaid piirkondi.
Seotud teenused
Pole päris see mida otsid?
Kõiki teenuseid ei pruugi meie lehel välja olla toodud. Kui sa ei leidnud õiget teenust või ei tea täpselt, millist teenust vaja, siis saada meile päring.
Saada päring